荧光X射线膜厚分析仪(FT110) 镀层厚度分析仪
面议元2023-02-22 01:19:28
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| 类别 | 黄页 仪器仪表网 | 品牌 | SEIKO/精工 |
| 型号 | FT110A | 加工定制 | 否 |
| 电源电压 | 220 | 显示方式 | 多种可以设定 |
| 来源 | 经纪人 | ||
荧光X射线膜厚分析仪(FT110) 镀层厚度分析仪
产品说明：1.即放即测。2.10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量。3.可无标样测量。4.通过样品整体图像更方便选择测量位置。产品特点：1.?通过自动定位功能提高操作性 测量样品时，以往需花费约10秒的样品对焦，现在3秒内即可完成，大大提高样品定位的操作性。?
2.?微区膜厚测量精度提高 通过缩小与样品间的距离等，致使在微小准直器（0.1、0.2mm）下，也能够大幅度提高膜厚测量的精度。?
3.?多达5层的多镀层测量 使用薄膜FP法软件，即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。?
4.?广域观察系统（选配） 可从大250×200mm的样品整体图像指定测量位置。?
5.?对应大型印刷线路板（选配） 可对600×600mm的大型印刷线路板进行测量。?
6.?低价位 与以往机型相比，既提高了功能性又降低20%以上的价格。产品参数：检测器 比例计数管X射线源 小型空冷式X射线管 准直器 0.1、0.2mmφ2种样品观察 CCD摄像头样品台移动量 250（X）×200（Y）mm样品大高度 150mm
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